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E+H物位計西安辦事處

E+H物位計西安辦事處

簡要描述:

物位測量通常指對工業生產過程中封閉式或敞開容器中物料(固體或液位)的高度進行檢測,如果是對物料高度進行連續的檢測,稱為連續測量。如果隻對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫E+H物位計。

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  E+H物位計西安辦事處
  物位測量通常指對工業生產過程中封閉式或敞開容器中物料(固體或液位)的高度進行檢測,如果是對物料高度進行連續的檢測,稱為連續測量。如果隻對物料高度是否到達某一位置進行檢測稱為限位測量。完成這種測量任務的儀表叫E+H物位計。
  E+H物位計實現了電容式物位計進料一次完成標定的簡易操作;從而實現了物位測量的強功能與易操作的*結合,充分體現了我司與時俱進的創新精神和能力。它由傳感器和二次儀表兩部份組成。傳感器放在料倉頂,探極垂直伸進料倉內,二次儀表放在其他合適的地方。傳感器把物位的變化轉變成與之對應的電脈衝信號,遠傳給二次儀表處理,再用光柱顯示物位高度,並有高/低限報警和 4~20mA 變送輸出,E+H物位計適用於液體/固體物料作物位高度顯示、報警、控製和遠傳顯示或組成係統。
  E+H物位計的實用:
  目前微波物位計使用的微波頻率有三個頻段:C波段(5.8~6.3GHz)、X波段(9~10.5GHz)、K波段(24~26GHz)。製造商根據自己的技術及國家批準的頻率來設計產品。
  物位測量中的微波一般是定向發射的,通常用波束角來定量表示微波發射和接收的方向性。波束角和天線類型有關,也和使用的微波頻率(波長)有關。
  對於常用的圓錐形喇叭天線來說,微波的頻率越高,波束的聚焦性能越好,即波束角小,在實際使用中這是十分重要的,低頻微波物位計有較寬的波束,如果安裝不得當,將會收到內部結構產生的較多的虛假回波,例如:采用4”喇叭天線的26GHz雷達的典型波束角為8°,而5.8GHz 的典型波束角為17°。並且,微波的頻率越高,其喇叭尺寸也可以做的越小,更易於開孔安裝。目前還沒有頻率高於K波段(24—26GHz)的E+H物位計。
  而X波段雷達由於沒有明顯的應用特點,而在各大物位廠商的雷大物位技術發展中趨於被淘汰。現今物位測量領域困擾用戶的是一些大型固體料倉的物位測量,特別是用於50/100米以內的充滿粉塵和擾動的加料狀態下的料倉。相關技術的儀表例如電容或導波雷達TDR在放料時物位下降時會受到很強的張力負載,可能會損壞儀表或把倉頂拉塌掉。重錘經常有埋錘的問題,需要經常維修,大多數其他機械式儀表也是這樣。而高粉塵工況又可能會超出非接觸式超聲波物位測量係統的能力。 高頻的調頻雷達技術尤其適合這種大型固體料倉的物位測量!

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